Analyse et caractérisation optique

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Application aux surfaces et interfaces des matériaux diélectriques, métalliques et semiconducteurs

La présent ouvrage a pour objectif l'analyse et la caractérisation des surfaces et interfaces de trois types de matériaux, en l’occurrence le verre optique, l'acier, le silicium et quelques dépôts de couches minces sur substrats.

Il s'agit d'utiliser des méthodes de caractérisation optiques et exploiter les propriétés optiques en corrélation avec l'état de surface.

Comme la connaissance de l'état de surface d'un élément ou d'un composant optique ou optoélectronique est indispensable pour atteindre la fonctionnalité voulue, les états de surfaces continuent toujours d'être considérés comme un domaine de recherche appliquée très important.

Pour atteindre cet objectif on a réservé une partie à l'étude théorique du phénomène et les aspects mathématiques décrivant les paramètres de surface et l'interaction lumière-matière.

Quant aux techniques utilisées, on a appliqué les techniques de diffusion de la lumière, l'ellipsométrie, l'interférométrie optique à décalage de phase et la microscopie à contraste interférentiel.

Ce spectre de technique est très complémentaire et reflète le caractère expérimental de cet ouvrage.

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